الأشعة السينية الضوئية الطيفي ( XPS )

الأشعة السينية الضوئية الطيفي ( XPS )تحليل الأداء :

● التحليل النوعي والكمي للعناصر السطحية

تصميم محلل الطاقة جنبا إلى جنب مع ثنائي microfocusing أحادي اللون مصدر الأشعة السينية

● سرعة عالية الدقة التصوير الموازي

التصوير الكيميائي : القرار المكانية أفضل من 1um

تتبع الطيف : تتبع المنطقة أفضل من 6um

● لا حاجة للكشف عن تصحيح الخلفية

المزدوج للكشف عن تصميم مضاعف إلكترون و مقاوم الأنود كاشف يمكن تحقيق متطلبات عالية الأداء وعالية الدقة المكانية XPS XPS التصوير .

في هذه الورقة ، تقنية جديدة من الفضاء المستمر الأنود المقاومة الكاشف هو عرض ، مما يجعل من الأشعة السينية التصوير القرار تصل إلى 1um . وفي الوقت نفسه ، فإن البيانات التي تم الحصول عليها من دون خلفية مميزة من الكاشف ، لا تحتاج إلى تصحيح الخلفية ، وبالتالي الحصول على نتائج التصوير من توزيع العناصر الكمية مع ميكرون الحجم القرار مباشرة .

● التركيز الجزئي مصدر أحادي اللون

تحليل حجم قابل للتعديل باستمرار بين 20 و 900

الحساسية والطاقة القرار

توفير ما لا يقل عن 20 نقطة عمل الهدف ، وضمان عدم استبدال الأنود الهدف أثناء استخدام أداة مدى الحياة

● الآلي عالية الكفاءة ايون تحليل المصدر

نوع جديد من أيون الأرغون المجموعة جنبا إلى جنب مع الجسيمات واحدة التقليدية أيون المصدر

● عالية الدقة الزاوي القرار XPS

برامج مراقبة وتحليل الموقف وزاوية لضمان دقة البيانات وتكرارها

arxps مجموعة كاملة من أدوات معالجة البيانات ، نانو النطاق متعدد الطبقات هيكل الجهاز سمك طبقة الحساب

● مفتاح واحد تهمة التعويض

مع اثنين من شعاع تهمة تحييد النظام ، يمكن أن تكون مستقلة تسيطر على فتح وفقا لمتطلبات العينات الفعلية .

مناسبة لأنّ دقة تهمة تحييد جميع العينات غير موصل سطح خشن

● برمجيات تحليل Avantage قوية

كامل الرقمية أداة التحكم

برامج نظام التشغيل المرئي

مجموعة كاملة من البيانات القياسية XPS قاعدة بيانات قاعدة بيانات تحديد هيكل المركبة

عادة الحصول على البيانات إلى تقرير وضع الجيل

الأشعة السينية الضوئية الطيفي ( XPS )عملية بسيطة :

● أتمتة عالية

تحليل المنطقة وزاوية القرار اختياري

التلقائي السيطرة على الغاز والفراغ

● معايرة في أي وقت

معايرة مقياس الطاقة وأداة وظيفة العمل

بندقية ايون ايون شعاع تركز المواقع

● انقر فوق الماوس نوع عينة الملاحة

في الوقت الحقيقي عرض وتحليل الموقف

ارتفاع كثافة الإضاءة وكثافة قابل للتعديل

الأشعة السينية الضوئية الطيفي ( XPS )تصميم مرن

● المحطة الفضائية الدولية ، arxps و rels هي معيار التكوين

● متعدد الوظائف غرفة أخذ العينات مع التكوين القياسية

● يو بي إس / EDS / AES / SEM / SAM / اختياري

● عينة اختيارية من الملحقات المعالجة ، بما في ذلك :

إعداد عينة الجدول ، كريستال الأنظف ، عينة مكشطة

عينة تدفئة / تبريد الجهاز

الاخرق تنظيف ايون بندقية

المبخر

ارتفاع ضغط دائرة رد الفعل