مطياف سارسبيك اكس ريس

اسم المنتجمطياف سارسبيك اكس ريس

نوع المنتج :إكس-ريس 1

عرض المنتج

x-res هو الخيار المثالي بالنسبة لأولئك الذين يحتاجون إلى دقة عالية الأداء مطيافدقةدودا 0.05 نانومتر ( fwhm ) . x-res مثبتة على منصة البصرية المدمجة ، مع التركيز على 100 ملم ، ويمكن أن توفرعاليحساسية عالية ، وارتفاع ذروة التناظر ، مما يجعل هذه السلسلة من مطياف حل عالية الدقة التطبيقات .

يمكن للمستخدمين استبدال فتحات مرشحات بصرية ، مؤشر حالة الطاقة ، وظيفة الزناد دمج مطياف في الإعدادات الخاصة بك .إن x-res يوفر الوصول ( أكثر شيوعا ) و تعريف المستخدم ( أكثر تحديدا ) تكوينات ضيقة الأشعة فوق البنفسجية فيس و فيس نير النطاقات ، فضلا عن توسيع نطاق الأشعة فوق البنفسجية فيس نير . . .

خصائص الأداء

لمناسبة جدا لتطبيقات عالية الدقة

لفتحة فلتر بصري يمكن استبدالها من قبل المستخدم

لانخفاض القرار البصرية 0.05 نانومتر (FWHM)

لتحسين التصميم البصري - البعد البؤري 100 مم

لعرضي برنامج لايت سكانر

دليل اختيار

المواصفات الفنية

الأصل : البرتغال

نطاق العملية :185-1100 نانومتر ( مقسمة إلى 8 نطاقات التشغيل )

عدسة المكثف : اختياري ( المدرجة في النسخة المحسنة من الحساسية )

موصلات الألياف البصرية :SMA 905

الزناد : الإدخالالإخراج

حجم الشق :م ( قابل للاستبدال )

كشفالعنصر توشيبا

التكامل الوقت :3ms-214s

برامجلايت سكان

مقضب : وفقا لمجموعة مختارة

القرار البصرية :0.05 إلى 0.1 نانومتر

واجهةميني USB

تطبيق المنتج

x-res هو مطياف عالية الدقة التي يمكن أن تلبي جميع الاحتياجات الخاصة بك عالية الدقة التطبيقات .

يمكن للمستخدم استبدال فتحات ووظائف التصفية البصرية تسمح لك لتعيين x-res أكثر حساسية القياسات . هذه المرونة ، جنبا إلى جنب مع تحسين الحساسية ، يجعل النظام حلا لتلك التطبيقات عالية الدقة ، مثل الطول الموجي خصائص الليزر الصمام ، ورصد خطوط الانبعاث الطيفي من مصدر المعايرة ، أو تحديد خطوط الانبعاث الذري للعناصر .