XPS ( الأشعة السينية الضوئية الطيفي ) هو نوع من حساسية عالية سطح تحليل التكنولوجيا ، ويلعب دورا رئيسيا في تلوث سطح رقاقة ثنائي الفينيل متعدد الكلور واجهة التحليل .
تلوث سطح رقاقة واجهة التحليل
تحديد العناصر الكيميائية الدولة : إكسبس يمكن تحديد جميع العناصر على سطح رقاقة ما عدا الهيدروجين ( ح ) و الهليوم ( هو ) بدقة ، وتحديد وجود عنصر من خلال موقف مميزة خط طيفي . على سبيل المثال ، في أكسدة سطح رقاقة السيليكون أو الكشف عن الملوثات المتبقية ، إكسبس يمكن تحديد وجود شوائب مثل أكسيد السيليكون ( sio ₂ ) بدقة ، وفي الوقت نفسه ، فإنه يمكن تحليل كثافة الذروة الضوئية لتحديد كمية من العناصر أو التركيز النسبي ، وتوفير البيانات الرئيسية لتحسين عملية تحسين جودة المنتج .
مكثفات تحليل الحالة الكيميائية : إكسبس يمكن تحليل خصائص سطح رقاقة المواد ، بما في ذلك التركيب الكيميائي ، عنصر التكافؤ وتوزيع الطاقة . هذا أمر بالغ الأهمية لفهم تأثير واجهة الدولة الكيميائية على أداء الجهاز ، على سبيل المثال ، من خلال قياس سحابة الإلكترون التوزيع ومستوى الطاقة هيكل سطح الإلكترونات ، لمساعدة المهندسين على تحسين عملية المعالجة السطحية من الجهاز ، وتحسين أداء الجهاز و الحياة .
تلوث سطح ثنائي الفينيل متعدد الكلور واجهة التحليل
تحليل جودة الطلاء : XPS يمكن التحقق من تكوين الدولة الكيميائية وسمك توزيع ثنائي الفينيل متعدد الكلور وسادة الطلاء ، تكشف عن حالة الأكسدة من الطلاء المعدني ، الشكل الكيميائي من الشوائب ، مما يعكس عملية الطلاء بعد العلاج . هذا أمر بالغ الأهمية من أجل تحديد العيوب السطحية الدقيقة ، غير طبيعي طبقة من التآكل أو حتى ترسب الملوثات ، مما يساعد على تحسين موثوقية المنتج التقييم العلمي .
الكشف عن التلوث وعدم التحليل : إكسبس يمكن الكشف عن بقايا الفلور والكربون وغيرها من الملوثات في تصنيع ثنائي الفينيل متعدد الكلور ، وتحديد العناصر الشاذة في دائرة كهربائية قصيرة / كسر نقطة . على سبيل المثال ، في " الاصبع الذهبي " سوء الاتصال التحليل ، إكسبس يمكن الكشف عن طبقة أكسيد ، والملوثات العضوية أو بقايا على سطح نقطة الاتصال ، وبالتالي تحديد سبب سوء الاتصال .