فائق السرعة مجهر مسح بالإلكترون

زايس Multisim

فائق السرعة مجهر مسح بالإلكترون

أخذ العينات بسرعة تصل إلى 91 موازية شعاع الالكترون هو تطبيقها على نطاق واسع في التصوير سنتيمتر مع نانومتر القرار . هذا فريدة من نوعها مجهر مسح بالإلكترون مصممة للعمل بشكل مستمر وموثوق بها في جميع الأحوال الجوية . Multisim تلقائيا يمكن الحصول على صورة عالية التباين ببساطة عن طريق وضع تدفق عالية الحصول على البيانات .

لسرعة التصوير

لالتلقائي مجموعة كبيرة من الصور

لنانومتر التفاصيل تحت معلومات العيانية

لانخفاض الضوضاء صورة عالية التباين

شعاع الالكترون متعددة للكشف عن التوازي

MultiSEMفائق السرعة مجهر مسح بالإلكترونالعديد من شعاع الالكترون ( الأخضر : إضاءة الطريق ) تستخدم جنبا إلى جنب مع كاشف . ضبط مسار الكشف ( الأحمر ) يمكن جمع كمية كبيرة من الإلكترونات الثانوية ( SE ) لاستخدامها في التصوير . كل شعاع الالكترون ينفذ برنامج المسح الضوئي متزامن في عينة واحدة الموقف ، وبالتالي الحصول على صورة فرعية واحدة ، ثم صورة كاملة يتم إنشاؤها بواسطة دمج جميع الصور معا . بالتوازي مع برامج الكمبيوتر المستخدمة في تسجيل البيانات بسرعة لضمان سرعة التصوير عالية عموما . في multisem النظام ، الحصول على الصور و التحكم في سير العمل بشكل مستقل .

سير العمل المتكامل

شريحة المقطعية المستمر للحصول على عينات كبيرة الحجم

التلقائي تقطيع

الراتنج جزءا لا يتجزأ من الأنسجة البيولوجية شرائح تلقائيا باستخدام atumtome . . . . . . . جمع ما يصل إلى يوم واحد1000شرائح متتالية . . . . . . .

عينة فسيفساء

شريحة الشريط مطعمة على رقاقة السيليكون ، ثم تم تصويرها بواسطة المجهر الضوئي . نقل إلى multisem رقاقة ، واستخدام نظرة عامة على الملاحة وتصميم التجارب الخاصة بك .

الإعداد التجريبية

التجربة برمتها يمكن أن تكون مجموعة واحدة باستخدام الرسم البياني مركز التحكم . فائدة نموذج يوفر الوقت من خلال كفاءة عالية التلقائي الكشف عن شريحة لتحديد وتأمين المناطق ذات الاهتمام .

تطبيق حالة زايس Multisim