المواصفات الفنية XEPOS مطياف الأشعة السينية مضان سبايك

المواصفات الفنية XEPOS مطياف الأشعة السينية مضان سبايك

شركة سبايك الألمانية أداة تحليلية وضعت تقنية ناجحة للغاية من أجل تطبيق الاستقطاب الأشعة السينية مضان التحليل . كما استقطاب مرشح هو أداة لا غنى عنها في التقاط صور عالية الجودة في الوقت الحاضر ، هذه التقنية التحليلية أصبحت أداة لا غنى عنها في تحديد العناصر الرئيسية والثانوية والعناصر النزرة في المختبر . SPECTRO XEPOS الجدول الاستقطاب مطياف الأشعة السينية الإسفار ( SPECTRO XEPOS ) وقد تم تطوير هذه التكنولوجيا باستمرار .
المواصفات الفنية XEPOS مطياف الأشعة السينية مضان سبايك

إن spectro xepos الداخلية تعتمد على مكونات عالية الأداء ، ويمكن الحصول على حساسية جيدة ودقة . باستخدام الاستقطاب الثانوية الهدف لضمان * الإثارة جيدة ، 12 بت عينة التلقائي التبديل ، قبل تثبيت حزمة تطبيق البرمجيات الذكية وحدة البرمجيات ، مما يجعل من spectro xepos حقا متعددة الوظائف محلل عنصري .

سبكترو xepos يأتي مع مجموعة من التطبيقات المثبتة مسبقا ، بما في ذلك الأجهزة المختلفة وأساليب التحليل قبل معايرة في المصنع . مناسبة للتحليل : اختبار بنفايات في التربة ، الحمأة ، إضافات النفط والاسمنت والخبث ، والحراريات ، والمكونات الإلكترونية ، الخ .

XEPOS مطياف الأشعة السينية مضان يمكن استخدامها على نطاق واسع في تحليل الرصاص والكادميوم والزئبق وغيرها من العناصر في مختلف المواد الالكترونية والبلاستيك .