دينامية مطياف الكتلة ايون الثانوية d-sims

إن adept-1010 مصممة خصيصا لصناعة السيارات في تحليل الضحلة حقن أشباه الموصلات و الأفلام العازلة ، هو أداة مشتركة في معظم أشباه الموصلات تطوير ودعم المختبرات . من خلال الاستفادة المثلى من الثانوية ايون جمع النظام البصري و تصميم فراغ عالية جدا ، والحساسية من المنشطات و النجاسة المشتركة في الكشف عن هيكل الفيلم هو المقدمة .

دينامية مطياف الكتلة ايون الثانوية ( d-sims ) هو حساسية عالية سطح تقنية التحليل المستخدمة في تحليل المواد الصلبة .

إن adept-1010 مصممة خصيصا لصناعة السيارات في تحليل الضحلة حقن أشباه الموصلات و الأفلام العازلة ، هو أداة مشتركة في معظم أشباه الموصلات تطوير ودعم المختبرات . من خلال الاستفادة المثلى من الثانوية ايون جمع النظام البصري و تصميم فراغ عالية جدا ، والحساسية من المنشطات و النجاسة المشتركة في الكشف عن هيكل الفيلم هو المقدمة .

مبدأ العمل :

دينامية مطياف الكتلة ايون الثانوية يجعل الذرات والجزيئات الاخرق على سطح العينة عن طريق قصف سطح العينة مع التركيز على الطاقة العالية شعاع ايون الأولية ( مثل س ̀ ، CS ⁺ ، ع ⁺ ) . في هذه العملية ، جزء من الجسيمات الاخرق سوف تهمة تشكيل الأيونات الثانوية . . . . . . . هذه الأيونات الثانوية التي تم جمعها ونقلها إلى مطياف الكتلة للتحليل ، من خلال تحليل الطيف الكتلي يمكن تحديد عينة من التركيب الكيميائي و توزيع العناصر .