- البريد الإلكتروني
- الهاتف
-
العنوان
beiqing الطريق ، حي تشانغبينغ ، بكين ، الصين
Beijing Rongxing Guangheng Technology Co., Ltd
! تعال lcpln50xir و 100xir الأشعة تحت الحمراء عدسة الهدف
قابلة للتفاوضتحديث05/06
- نموذج
- طبيعة المصنع
- المنتجين
- فئة المنتج
- مكان المنشأ
نظرة عامة
! تعال lcpln50xir و 100 الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة تحت الحمراء الأشعة
تفاصيل المنتج
! تعال lcpln50xir و 100xir الأشعة تحت الحمراء عدسة الهدف
! تعال lcpln50xir و 100xir الأشعة تحت الحمراء عدسة الهدف
أوليمبوس الأشعة تحت الحمراء عدسة الهدف
5x / 10x / 20x / 50xir الأشعة تحت الحمراء عدسة الهدف
المستخدمة في الصناعة
المعادن ، أشباه الموصلات ، والطيران ، الخ .
أوليمبوس lcpln50xir و lcpln100xir هي المجهر التي صممت خصيصا بالقرب من الأشعة تحت الحمراء ( الجرد ) المراقبة الطيفية ، وتستخدم أساسا في مجال أشباه الموصلات ، والإلكترون ، وصناعة المعادن ، الخ . 34
االتكنولوجيا الأساسية وتصميم ميزةا
ب .بالقرب من الأشعة تحت الحمراء القدرة على الملاحظةنبذة مختصرة : اثنين من العدسات الهدف الأمثل بالقرب من الأشعة تحت الحمراء ضوء الطول الموجي 700-1300nm ، مع نفاذية عالية ، يمكن أن تمر من خلال مواد مثل السيليكون ، لتحقيق غير تدميري مراقبة البنية الداخلية رقاقة ، أسلاك الربط أو العيوب . 38
ب .قابل للتعديل حلقة التصحيحهذا هو سمة أساسية من lcpln-ir سلسلة . عدسة الهدف يتم توفيرها مع تصحيح الطوق الذي يمكن تصحيح الزيغ الكروي على تغطية المواد مع سماكة مختلفة ، مثل الزجاج غطاء أو طبقة السيليكون ، وبالتالي الحفاظ على دقة عالية وعلى النقيض عالية عند مراقبة عينات مختلفة . 34
دتصحيح مجموعة من سمك الزجاج： 0 - 1.2mm（50X）； 0 - 0.7mm（100X）。 34
دسمك السيليكون مجموعة التصحيح： 0 - 1.2mm（50X）； 0 - 1.0mm（100X）。 34
ب .لانهائي نظام بصرينبذة مختصرة : استخدام لانهائي تصحيح التصميم البصري ، متوافق مع معيار لانهائي المجهر مسار الضوء . 12
ب .المقارنة بين المعلمات البصرية الرئيسيةا
المعاملات |
LCPLN50XIR |
LCPLN100XIR |
االتكبيرا |
50X |
100X |
االفتحة العددية ( ن ) .ا |
0.65 |
0.85 |
ابعد العمل ( دبليو دي )ا |
4.5 مم |
1.2 مم ( الزجاج ) / 1.48 - 1.33 مم ( السيليكون ) 13 |
احقل رقم ( f.n . )ا |
22 مم |
22 مم |
االمسافة البؤريةا |
45 مم |
45 مم |
االخيوط المشتركةا |
W20.32 × 0.706 (RMS) |
W20.32 × 0.706 (RMS) |
اغمر متوسطةا |
الهواء / التجفيف |
الهواء / التجفيف |
اثانياً - مزايا التطبيقا
ب .تحسين دقة الكشفالفتحة العددية العالية جنبا إلى جنب مع وظيفة تصحيح الزيغ يمكن أن توفر دقة عالية وعلى النقيض من الصور في الأشعة تحت الحمراء القريبة من الفرقة . 89
ب .تعزيز التكيفتصحيح حلقة مصممة بحيث يمكن أن تتكيف مع نفس العدسة الشيئية رقاقة أو عينة مع سماكة مختلفة من التعبئة والتغليف ، ويمكن الحصول على صورة واضحة دون تغيير العدسة الشيئية ، وتحسين كفاءة الكشف والمرونة . 38
ب .دعم وضع التصويرنبذة مختصرة : اثنين من العدسات الهدف دعم مشرق الميدان انعكاس وانتقال الملاحظة ، فضلا عن ضوء مستقطب الملاحظة . 210
ب .نظام التوافقنبذة مختصرة : كجزء من نظام البصرية أوليمبوس uis2 ، بالقرب من الأشعة تحت الحمراء للكشف عن منصة يمكن أن تكون مطابقة مع الجسم الرئيسي من المجهر المناسب . 4
اتطبيق نموذجي المشهدا
دفشل تحليل أشباه الموصلاتالكشف عن الشقوق ، الثقوب ، التبطين ، أسلاك الربط العيوب في الدوائر المتكاملة رقاقة . 8
درقاقة الكشفملاحظة : يستعمل كعامل إشابة المنطقة ، عيب و التركيب البلوري في رقاقة السيليكون . 39
دمادة البحث العلميجميع أنواع البحوث العلمية والصناعية اختبار المجالات التي تحتاج إلى اختراق مواد مبهمة للتصوير الداخلي . 12
