cs-828 تحليل الصور المعقدة مطياف

قابلة للتفاوضتحديث05/06

نموذج

طبيعة المصنع: المنتجين

فئة المنتج

مكان المنشأ

استشارة عبر الإنترنت

نظرة عامة

cs-828 صورة معقدة تحليل الطيف هو أداة تستخدم لقياس لون الصورة المعقدة . * تكوين الأداء * صورة تكنولوجيا معالجة البيانات ، حتى لو كان قياس 0.09 ملليمتر مربع من المنطقة ، ولكن أيضا لضمان التكرار في دي * ab0.1 ; cs-828 يمكن أن تحل مشاكل قياس الألوان و مطابقة الألوان من الصخور لون الطلاء ، غزل النسيج ، الخ . ر $ $ N1 . المعايرة التلقائية 2 . تطبيق قياس الألوان في الصور المعقدة 3 . الحد الأدنى من قياس 0.09mm2 المنطقة بين بوصة مربعة ، دقيقة كاملة 4 . ضمان نقل البيانات ممتازة مع العام مطياف 5-24 معيار مصدر الضوء .

تفاصيل المنتج

CS-828تحليل الصور المعقدة مطياف الألوان ميزات المنتج :

cs-828 تحليل الصور المعقدة مطيافهو أداة تستخدم لقياس لون الصور المعقدة . * تكوين الأداء * صورة تكنولوجيا معالجة البيانات ، حتى لو كان قياس 0.09 ملليمتر مربع من المنطقة ، ولكن أيضا لضمان التكرار في دي * ab0.1 ; cs-828 يمكن أن تحل مشاكل قياس الألوان و مطابقة الألوان من الصخور لون الطلاء ، غزل النسيج ، الخ .

1 . المعايرة التلقائية

2 - تطبيق قياس الألوان في الصور المعقدة

3 . الحد الأدنى من قياس 0.09mm²المنطقة بين بوصة مربعة

4 . ضمان نقل البيانات ممتازة مع العام مطياف

5-24 مصادر الضوء القياسية ، 30 + قياس المؤشرات

6 . يمكن أن توفر نتائج قياس الخيال العلمي / لجنة الخبراء الدائمة .

CS-828تحليل الصور المعقدةالمعلمات التقنية :

ظروف الإضاءة / القياس	انعكاس : د / 8 ( نشر الإضاءة ، 8 درجة الاتجاه المستقبلة )
ظروف الإضاءة / القياس	العلوم ( بما في ذلك الضوء المنعكس من المرآة ) / لجنة الخبراء الدائمة ( بما في ذلك الضوء المنعكس من المرآة ) في وقت واحد قياس تلبية المعايير : CIE رقم 15 ، جيجابايت / تي 3978 ، جيجابايت 2893 ، جيجابايت / تي 18833 ، ISO7724 / 1 ، DIN5033 Teil7 ، JIS Z8722 条件 C ، ASTM E1164 ، ASTM-D1003-07
سنسر	السيليكون الضوئي صفيف
طريقة تقسيم الضوء	مقعر مقضب
جزءا لا يتجزأ من قطر الكرة	152 مم
قياس مدى الطول الموجي	400 نانومتر-700 نانومتر
قياس الطول الموجي الفاصل	10nm
نصف عرض الموجة	5nm
قياس مدى الانعكاس	0-200 ٪ القرار 0.01 ٪
照明光源	كامل الطيف الدوي
قياس العيار	30*30mm, تخصيص أي حجم
الحد الأدنى من المساحة المقاسة	0.3 مم²
تكرار	xlav صفاء : الانحراف المعياري Δ هـ * ab0.03 ، ماكس Δ هـ * AB 0.1 ( 0.3mm2 منطقة أخذ العينات ، بعد تصحيح الصك ، قياس 30 مرة من لوحة بيضاء في 10 ثوان )
الفرق بين المحطات	xlav Δ ه * ab0.4 ( على أساس قياس متوسط 12 لوحة سلسلة BCRA في 23 ℃ )
معيار المراقب	2 ° المراقبون المقيمون و 10 ° المراقبون المقيمون
مراقبة مصدر الضوء	A ، C ، D50 ، D55 ، D65 ، D75 ، F1 ، F2 ، F3 ، F4 ، F5 ، F6 ، F7 ، F8 ، F9 ، F10 ، F11 ، F12 ، CWF ، U30 ، DLF ، NBF ، TL83 ، TL84
لون الفضاء	L * a * b ، L * C * h ، مختبر هانتر ، Yxy ، XYZ
مؤشر اللونية	WI (ASTM E313-00 ، ASTM E313-73 ، CIE / ISO ، AATCC ، Hunter ، Taube ، برجر ستينسبي) ، YI (ASTM D1925 ، ASTM E313-00 ، ASTM E313-73) ، Tint(ASTM E313-00), مُتَغَايِر مُتَغَايِر مُتَغَايِر مُتَغَايِر مُتَغَايِر مؤشر ثبات اللون ايزو السطوع ، r457 ، كثافة ، كثافة ر ، ه كثافة ، كثافة م
صيغة فرق اللون	ΔE * ab ، ΔE * CH ، ΔE * uv ، ΔE * cmc ، ΔE * 94 ، ΔE*00,ΔEab(Hunter), تصنيف الألوان
درجة حرارة التشغيل والرطوبة	الرطوبة النسبية أقل من 80 ٪ ( 35 ℃ ) لا ندى .
تخزين درجة الحرارة والرطوبة	الرطوبة النسبية أقل من 80 ٪ ( 35 ℃ ) لا ندى .
مرفق	محول الطاقة ، خط البيانات ، لوحة بيضاء
واجهة .	USB

منتج مماثل يوصي