- البريد الإلكتروني
- الهاتف
-
العنوان
غرفة 707 ، no.599 lingling الطريق ، منطقة كسوهوي ، شنغهاي
فئات المنتج
Shanghai Nateng Instrument Co., Ltd
قياس ثلاثي الأبعاد profilometer
قابلة للتفاوضتحديث05/06
- نموذج
- طبيعة المصنع
- المنتجين
- فئة المنتج
- مكان المنشأ
نظرة عامة
من تطوير المنتجات ومراقبة الجودة ، ويمكن استخدام هذا النظام على سطح مصغر قياس وتحليل وتقييم خشونة السطح من عينات مختلفة من سوبر السلس مرآة سطح خشن . مبدأ الضوء الأبيض التدخل .
تفاصيل المنتج
قياس ثلاثي الأبعاد profilometer
قياس ثلاثي الأبعاد profilometer
سطح ثلاثي الأبعاد الدقيقة قياس خشونة التقييم المستخدمة على نطاق واسع في مجالات الآلات الدقيقة ، وتصنيع أشباه الموصلات ، تحليل المواد ، الخ .
هيمنة
√subnano طولية القرار ، مناسبة لقياس وتحليل سطح أملس
√بسيطة ، دقيقة ، سريعة ، قابلة للتكرار
√طرق قياس غنية تدعم مختلفثنائي الأبعاد / ثلاثي الأبعادقياس الطلب
وظيفة
√عدم الاتصال قياس خشونة السطح ثلاثي الأبعاد
√قياس سطح المجهرية
√قياس وتحليل سماكة الفيلم
√قياس الانعكاس الطيفي المجهري(مختارو
موضوع مناسب
دقة المكونات البصرية ، مايكرو نانو تصنيع الأجهزة ، قطع غيار الآلات المعدنية ، رقاقة ، الخ .
مبدأ القياس
√مبدأ الضوء الأبيض التداخل المجهري : الضوء الأبيض مصدر الضوء المستخدمة في الجمع بين التدخل غير متماسكة مع ارتفاع القرار التصوير المجهريصورة ثلاثية الأبعاد ، وذلك باستخدام مختلف قياس التكبير الهدف ، طولية قياس القرار يمكن أن تصل إلى مستوى النانومتر
√microspectrometry : اختيار وحدة قياس الطيف يمكن تحقيق سطح microzone وظيفة قياس سماكة الفيلم
قياس حالة
