F50 قياس سماكة الفيلم

F50 يمكن ببساطة الحصول على أقصى قدر من مباشرةالشكل 1 توزيع سماكة الفيلم عينة قطرها 450 ملم . منصة متنقلة باستخدام الإحداثيات القطبية R - ثيتا ،اختراع يمكن بسرعة تحديد نقاط الاختبار المطلوبة والحصول على اختبار سمك في الوقت الحقيقي .اختبار اثنين في الثانية .

التطبيقات ذات الصلة :تصنيع أشباه الموصلات ( مقاومة للضوء ، وأكسيد نيتريد / سوي ، رقاقة طحن مرة أخرى ) ؛ شاشات الكريستال السائل ( بوليميد ، ايتو فيلم موصل شفافة ) ؛ طلاء البصرية ( من الصعب طلاء ، طلاء مضاد للانعكاس ) ؛ ممس نظام الكهروميكانيكية الدقيقة ( مقاومة للضوء ، فيلم السيليكون ) .

P7 خطوة متر

ف - 7 يمكن قياس ارتفاع الخطوة ، خشونة ، تزييفها ، والإجهاد في 2D و 3D المسح الضوئي يمكن أن تصل إلى 150 ملم دون صورة الفسيفساء .

التطبيقات ذات الصلة :فيلم / سميكة فيلم خطوة ; قياس عمق الحفر ؛ صور مقاومة / صور مقاومة خطوة ; مرنة فيلم ; وصف خشونة السطح / التسطيح . انحناء السطح و تحليل الشخصية ؛ قياس 2D stress رقيقة ؛ تحليل بنية السطح ؛ صورة ظلية ثلاثية الأبعاد من سطح ; عيب عيب توصيف وتحليل .

R50 أربعة يدقق في أداة قياس المقاومة

الفيلم سلسلة R50 يوفر الاتصال أربع نقاط التحقيق ( 4PP ) وعدم الاتصال الدوامة الحالية ( EC ) القياسات . أسرع سرعة 1 نقطة / ثانية خرائط المقاومة / التوصيل من فيلم موصل . الكهربائية X-Y الجدول الناقل يستخدم معيار رقاقة مصاصة لتخصيص حامل العينة ، والتي يمكن قياس الحد الأقصى لعينة 300mm ، أو 200mm في المنطقة .

التطبيقات ذات الصلة :رقاقة السيليكون المنشطات ؛ اختبار سمك طبقة معدنية ؛ رقاقة اختبار المقاومة

بومان XRF قياس سمك الطلاء

12 × 12 بوصة منطقة قابلة للقياس متفوقة على المنتجات المماثلة في الشغل مع ارتفاع لا يتجاوز 9 بوصات . التلقائي تلسكوب الموازاة متعددة يسمح اختيار حجم بقعة لتناسب مختلف الأحجام المميزة . متغير التركيز الكاميرا يسمح القياسات في نطاق التركيز من 0.25 إلى 3.5 بوصة .

التطبيقات ذات الصلة :قياس معامل الانكسار من المواد ؛ قياس سمك أكسيد السيليكون الطبيعية ؛ قياس الثوابت البصرية للضوء . قياس سماكة المعادن على السيليكون في الجزء الخلفي من حزمة أشباه الموصلات

fs-1 متعدد الطول الموجي ellipsometry

فيلم الاستشعار fs-1 متعددة الطول الموجي ellipsometry يعتمد على مصدر الضوء LED طويلة العمر وغير منقولة ellipsometry للكشف عن المكونات ، ويمكن تحقيق موثوق بها رقيقة قياس في عملية بسيطة المدمجة ellipsometry . . . . . . .

التطبيقات ذات الصلة :السيليكا نتريدات , مواد عازلة عالية ومنخفضة , مواد غير متبلور متعدد الكريستالات , أفلام رقيقة من السيليكون , مقاومة للضوء .ارتفاع وانخفاض مؤشر الأفلام ، مثل السيليكا ، TiO2 ، ta2o5 و mgf2 . . . . . . .TCO ( مثل ايتو ) ، غير متبلور السليكون العضوية رقيقة ، رقيقة ( لقد اخترت التكنولوجيا )