مرحبا بكم العميل!

العضوية

مساعدة

Nanjing Zhilian Optical Technology Co., Ltd
مصنع مخصص

المنتجات الرئيسية:

instrumentb2bصقضايا النجاحص
من نحن

Nanjing Zhilian Optical Technology Co., Ltd

  • البريد الإلكتروني

    303924194@qq.com

  • الهاتف

    13585156439

  • العنوان

    غرفة 2302 ، بناء 1 ، رقم 5 ، Zhufeng الطريق ، Zhuzhen تاون ، حي Luhe ، نانجينغ

اتصل الآن

تحليل الفشل هو تشخيص أسباب فشل المكونات الإلكترونية ، في عملية تحليل الفشل ، غالبا ما تحتاج إلى مساعدة من الأدوات والمعدات ، فضلا عن وسائل التحليل الكيميائي ، من أجل تأكيد وضع الفشل ، وتحديد أسباب الفشل ، فشل آلية البحث ، وتحسين التدابير الوقائية . هذه الطريقة يمكن تقسيمها إلى ضياع التحليل ، التحليل غير تدميري ، والتحليل المادي ، والتحليل الكيميائي ، وهلم جرا . من بينها ، عندما يتم الكشف عن التشكل الجزئي ، لا سيما عندما يكون من الضروري مراقبة القسم أو الهيكل الداخلي ، ايون طحن الصك ، المجهر الإلكتروني الماسح ( SEM ) جنبا إلى جنب مع الطريقة المستخدمة في تحليل الفشل .
ايون طحن هو أداة تستخدم على نطاق واسع في الوقت الحاضر ، والتي يمكن استخدامها لقطع زوايا مختلفة ، وتلميع وتنظيف السطح ، من أجل إعداد SEM عينة مناسبة لأنّ أشباه الموصلات خطأ التحليل .

图片

ايون آلة طحن

TECHNOORG ليندا

1

图片

مجهر مسح بالإلكترون

فينوم سيم

2


图片

ماذا ؟ماذا ؟

01

المبدأ الأساسي ايون طاحونة


طريقة تحليل فشل رقاقة

حالة مشاركة


1

الأولوية في تحديد موقع الفشل

图片
图片

2

بعد قفل فشل تحليل الموقف ، قررت قطع ايون طاحونة .

3

قطع في ايون طاحونة

图片
图片

4

قطع عينة ، تكبير الملاحظة

5

بعد التضخيم ، اليسار واليمين التماثل في موقع خطأ تم العثور عليها .

图片
图片

6

بعد مزيد من التضخيم ، وجد أن السبب الرئيسي في الفشل هو قذف تشوه وتكسير .

7

تشوه وتكسير الكلمات

التكبير : 20 , 000x

图片
图片

8

تشوه وتكسير الكلمات

التكبير : 40 , 000x


جيم حزمة اختبار تحليل الفشل

حالة مشاركة


图片

1

قطع موقع الفشل

图片

2

قطع في ايون طاحونة


图片

3

الموقع 1 . لم يتم العثور على اتصال هنا بعد التكبير . التكبير : 30 , 000x

图片

4

موقف 2 . بعد تكبير وجدت الكراك هنا . التكبير : 50 , 000x


ثنائي الفينيل متعدد الكلور / بتبا تحليل الفشل

حالة مشاركة


图片
图片


ايون آلة طحن

SC-2100

图片
  • مناسبة لقطع شعاع ايون الشخصي ، وتلميع السطح

  • يمكن إعداد عينة مقطعية مسبقا مع قطع مختلفة الزوايا

  • غرامة تلميع وتنظيف عينة تلميع أو المرحلة النهائية

  • سوبر عالية الطاقة ايون بندقية تلميع السريع

  • انخفاض الطاقة ايون بندقية مناسبة بعد المعالجة السطحية غير المدمرة غرامة تلميع وتنظيف

  • عملية بسيطة ، جزءا لا يتجزأ من نظام الكمبيوتر

  • نظام التبريد التوحيد ، تنطبق على أنواع متعددة من العينات

  • في الوقت الحقيقي رصد عملية تلميع عالية الدقة كاميرا ملونة