مطياف الأشعة السينية( XES ) هو أداة رئيسية لدراسة تكوين وهيكل آلية التفاعل في التحليل الكيميائي بسبب حساسية عالية من العناصر الكيميائية و حل السلطة .

　　مطياف الأشعة السينيةالقرار الكيميائية والتحليل المجهري :

القدرة على حل الدولة الكيميائية

من خلال قياس التحول الكيميائي ( أي ذروة التحول الطيفي ) من الأشعة السينية ، XES يمكن التمييز بين مختلف الدول المؤكسدة أو تنسيق البيئة من نفس العنصر . على سبيل المثال :

أكسدة الحديد الدولة : ك α خط انبعاث الطاقة الفرق بين الحديد ۸ ( مثل فيو ) و الحديد ⁺ ( مثل الحديد ̀ س ) حوالي 1-2 إف ، XES يمكن تمييزها بوضوح .

التكافؤ الدولة الكبريت : ق ك α خط الطاقة ق ۹ ( كبريتيد ) و so ۸ ( كبريتات ) فرق كبير ، وتستخدم لتعقب الملوثات البيئية .

المنطقة الصغيرة و التحليل غير تدميري

جنبا إلى جنب مع مجهر مسح بالإلكترون ( SEM ) أو انتقال الإلكترون المجهر ( تيم ) ، XES يمكن تحقيق الدولة الكيميائية ورسم الخرائط من ميكرون إلى نانو النطاق ، والكشف عن المواد غير التوحيد .

فائدة نموذج مناسبة لأنّ غير تدميري تحليل هش أو مواد غير متجانسة ( مثل السيراميك ، الأنسجة البيولوجية ) دون الحاجة إلى إعداد عينات معقدة . . .