مطياف الأشعة السينيةمطياف الأشعة السينية ( XEM ) هو أداة علمية تستخدم للكشف عن الأشعة السينية المنبعثة من مادة مميزة بعد الإثارة . المبدأ الأساسي من الأشعة السينية على أساس الخصائص التي تنتجها الإلكترون الانتقال في الطبقة الداخلية من الذرات .

　　مطياف الأشعة السينيةتطبيق المشهد :

علم المواد

الوصف : تتبع التطور الدينامي من مركز نشط في هيكل electrocatalytic فعل . على سبيل المثال ، فريق من جامعة العلوم والتكنولوجيا في الصين تستخدم ميلي ثانية واحدة time-resolved ed ed-xafs للقبض على deprotoning عملية ني 3 ⁺ δ الأنواع في الأكسجين تطور ردود الفعل .

تحليل تكوين سبيكة : بسرعة تحديد العناصر الرئيسية والعناصر النزرة في المواد المعدنية ، وتوجيه عملية التحسين .

الاستكشاف الجيولوجي وتحليل المعادن

تحديد درجة خام : XRF ( الأشعة السينية الإسفار مطياف ) يمكن أن تدميري اختبار محتوى العناصر الأرضية النادرة في خام ، مثل " haikeweishi K5 " المحمولة XRF صك الجمارك النادرة مراقبة الصادرات .

المرحلة المعدنية التحليل : الجمع بين مزايا عالية الدقة ( الطول الموجي الطيف بالأشعة السينية المشتتة WDS ) تميز توزيع العناصر النزرة في المعادن .

رصد البيئة

تحليل الجسيمات في الغلاف الجوي : XRF هي واحدة من ثلاث طرق رئيسية pm2.5 عنصر التحليل ، والتي يمكن الكشف عن أكثر من 20 أنواع من العناصر ، مثل آل ، سي ، ق ، الكلور ، وهلم جرا .

تقييم تلوث التربة : بسرعة فحص المعادن الثقيلة ( مثل الرصاص والكادميوم ، كما ) في المناطق الملوثة .

التفتيش على الجودة الصناعية

بطارية ليثيوم أيون اختبار : XRF يستخدم لتحديد كمية من المواد الكاثود بطارية ثلاثية العناصر ، وتجنب إساءة استخدام يؤدي إلى انفجار ، وضمان خدمة الحياة .

تصنيع أشباه الموصلات : الكشف عن التلوث المعدني على سطح رقاقة ، ومراقبة العائد .

خامساً - الاتجاهات التكنولوجية