مرحبا بكم العميل!

العضوية

مساعدة

Funa Scientific Instruments (Shanghai) Co., Ltd
مصنع مخصص

المنتجات الرئيسية:

instrumentb2bصتنزيل الموادصلماذا الرياضيات مهم ؟ استخدام صيغة لشرح مزايا SEM انخفاض الجهد مراقبة nonconductive عينات
تحميل

Funa Scientific Instruments (Shanghai) Co., Ltd

  • البريد الإلكتروني

    info@phenom-china.com

  • الهاتف

    18516656178

  • العنوان

    غرفة 705 ، T5 ، libao بلازا ، هونغكياو شنغهاي هونغكياو تاون ، مقاطعة مينهانج ، شنغهاي

اتصل الآن
لماذا الرياضيات مهم ؟ استخدام صيغة لشرح مزايا SEM انخفاض الجهد مراقبة nonconductive عينات
التاريخ:2020-06-23اقرأ:1

ما هو تأثير شحنة كهربائية ؟

مجهر مسح بالإلكترون ( SEM ) يستخدم أساسا لمراقبة تضاريس السطح من العينات ، ولكن في كثير من الأحيان بسبب تأثير شحنة كهربائية ، صورة غير طبيعية تصبح مشرقة ، مشوهة ، أو حتى صورة ضبابية ، مما يؤثر بشكل خطير على جودة الصورة .

الشكل 1 الإلكترون الانبعاثات منحنى خواص المواد العازلة الصلبة . الإحداثي السيني هو الحادث طاقة الإلكترون ، الإحداثي الطولي هو الإلكترون العائد من العينة . تهمة الظاهرة يمكن التعبير عنها بواسطة كيرشوف القانون الحالي ، أي مجموع التدفقات الحالية إلى عقدة في أي لحظة يساوي مجموع التدفقات الحالية من العقدة . ويمكن التعبير عنها بالصيغة التالية :

حيث أنابهو الحادث الحالي الإلكترون ، δI(ب)هو مجموع التيارات الكهربائية backscattered الإلكترونات الثانوية ، ISCهو نموذج التأريض الحالية ، س هو تفريغ الشحنة الكهربائية في الوقت ر .