sensofar s neox يدرك مجموعة كاملة من قياس التغطية من subnano سطح أملس إلى ملليمتر خشونة السطح من خلال التحول السلس من التركيز المشترك ، تدخل و البؤري تراكب .
باستخدام تقنية البؤر ، على النقيض عالية 2D الصور التي تم الحصول عليها عن طريق تصفية nonfocus شعاع من خلال ثقب الإبرة ، ثم شكل ثلاثي الأبعاد تم بناؤها بعد المسح الطولي . مع 150 مرة و 0.95 الفتحة العددية العدسة ، قياس المنحدر من سطح أملس يصل إلى 70 درجة ، سطح خشن يصل إلى 86 درجة ، والتكرار من z-axis قياس ثابت في نانومتر . فائدة نموذج مناسبة لأنّ تحديد هيكل غرامة مثل خطوط صغيرة ، والثغرات ، وما إلى ذلك ، مثل خط الكشف عن التشكل من رقائق أشباه الموصلات .
الضوء الأبيض تدخل مرحلة التحول تدخل وسائط الأمثل لمختلف نعومة السطح : الضوء الأبيض تدخل طولية القرار 0.1nm ، مع سطح خشن قليلا . مرحلة التحول تدخل subnanometer الدقة ، مصممة خصيصا سوبر سطح أملس ، وكلاهما لا يتأثر التكبير . متعدد البؤر تراكب التكنولوجيا تركز على سطح خشن ، واحد مسح عمق 8 ملم ، والتي يمكن أن تلبي متطلبات قياس الهياكل المعقدة مثل يموت ، والمواد المضافة تصنيع أجزاء .
التبديل بين هذه الأنماط تتم تلقائيا من خلال محرك ذكي البصرية ، والتي يمكن للمستخدم اختيار التكنولوجيا المناسبة وفقا لخصائص مهمة القياس بمجرد النقر على العملية . على سبيل المثال ، عند قياس سطح أملس جدا من العدسة البصرية ، التبديل تلقائيا إلى مرحلة التحول تدخل . عندما يتم الكشف عن هيكل العفن الخام ، متعدد البؤر تراكب واسطة هو تفعيلها .
نمط التقنية مطابقة الجدول
عندما يستخدم نموذج المنفعة ، المستخدمين لا تحتاج إلى يدويا القاضي وضع التوافق ، البرنامج تلقائيا يوصي وفقا لخصائص سطح الصورة مسبقا ، ويمكن أيضا اختيار يدويا في " إعدادات متقدمة " . هذا التصميم يعزز إلى حد كبير القدرة على مطابقة عينات مختلفة من المعدات ، وتغطي العديد من الصناعات الالكترونية ، والسيارات ، والطبية وغيرها من متطلبات القياس .