دراسة عن تشتت خصائص الكريستال السائل المغير ضوء المكانية التحوير المرحلة
jinkun بكين التكنولوجيا المحدودةwww.jonkon.com.cn
اختياريقدم هذا البحث طريقة جديدة لقياسالكريستال السائل المغير ضوء المكانية(LCSLM)وellipsometry الأسلوب له العديد من المزايا ، مثل مسار بصري بسيط ، نتيجة دقيقة ، واختبار التشغيل الآلي ، وما إلى ذلك مقارنة مع مصدر ضوء أحادي اللون التداخل ، ellipsometry الأسلوب هو أكثر بسيطة وعملية .(450 نانومتر)مكتبLCSI Mتضمين طور القدرة1( أ )54λ (λ = 450 نانومتر)في الطول الموجي الطويل(800 نانومتر)مكتب، LCSLMتضمين طور القدرة0( أ )70λ (λ = 800 نانومتر)في اتفاق جيد مع تشتت خصائص التحليل النظري .
الكلمات الرئيسية : الكريستال السائل ؛المغير ضوء المكانيةتشتت اليپسومتر
رقم التصنيف في الرسم البياني :0753نTP217رقم تعريف الوثيقة :ألفعدد المواد :1004-4213 ( 2007 ) 06-1065 3
0 مقدمة
في إطار مختلف الطول الموجي والجهد ، الكريستال السائلالمغير ضوء المكانيةهذه الخاصية يمكن أن تستخدم على نطاق واسع في العديد من المجالات ، مثل تعويض التشتت ، الضوء الأبيض واجهة الموجة التصحيح ، والاتصالات البصرية ، وما إلى ذلك في الوقت الحاضر ، البحث عن خصائص التشتت الكريستال السائل هو أساسا حول انكسار الكريستال السائلدلتانو شدة الضوء ، ولكن لا تأخذ في الاعتبار خصائص المرحلة التشتت بعد تطبيق الجهد ، معظم مراحل قياس التداخل ، حتى مرحلة واحدة في الطول الموجي ، قياس التداخل الضوئي مسار معقد ، طريقة الاختبار مزعجة ، ولكن أيضا من أجل قياس التشتت المرحلة تحتاج إلى إدخال مطياف لتوليد مصدر ضوء أحادي اللون ، ثم قياس مصدر ضوء أحادي اللون في أطوال موجية مختلفة ، على التوالي .ضوء المغيرفي .450 نانومترإلى800 نانومترمرحلة القياس في نطاق الطول الموجي .